顆粒硬度測(cè)試儀AS2100測(cè)量球形顆粒材料
簡(jiǎn)要描述:顆粒硬度測(cè)試儀AS2100測(cè)量球形顆粒材料可配備多個(gè)樣本輸入端口,以連續(xù)測(cè)量不同等效大小的樣本。
產(chǎn)品型號(hào):
所屬分類:AS2100
更新時(shí)間:2024-12-03
廠商性質(zhì):代理商
顆粒硬度測(cè)試儀AS2100測(cè)量球形顆粒材料
顆粒硬度測(cè)試儀AS2100是一種測(cè)量球形顆粒材料(顆粒)硬度的儀器。測(cè)量數(shù)據(jù)可以顯示在電腦上,并通過(guò)連接打印機(jī)輸出總數(shù)據(jù)。產(chǎn)品符合JISK6219-3(ISO8942,ASTMD5230)。
技術(shù)參數(shù):
商品 | 規(guī)格 | 備注 |
外部尺寸 | W355 x D560 x H340 (mm) | |
重量 | 約28公斤 | |
最大負(fù)載 | 200cN | |
壓縮速度 | 0.125mm/秒 | 5步變量 |
顆粒大小 | 0.5~2.0mm的球形 | |
輸出 | B型USB | 數(shù)據(jù)傳輸?shù)诫娔X |
電源 | 交流100V±5% | 50/60Hz |
支持的操作系統(tǒng) | Windows10 |
顆粒硬度測(cè)試儀AS2100測(cè)量球形顆粒材料
高速測(cè)量
與之前的模型相比,測(cè)量時(shí)間大約減少了一半(取決于測(cè)量條件)。
球形樣品的硬度和顆粒尺寸的測(cè)量
可以同時(shí)測(cè)量炭黑等球形樣品顆粒特性的硬度和顆粒尺寸。
連續(xù)測(cè)量不同類型的樣品
AS2100可配備多個(gè)樣本輸入端口,以連續(xù)測(cè)量不同等效大小的樣本。
兩種數(shù)據(jù)管理
可保存兩種類型:破碎載荷×顆粒尺寸分布圖和單獨(dú)載荷曲線數(shù)據(jù)。
安全裝置
只有在安裝了儀表蓋時(shí),儀器才能進(jìn)行測(cè)量操作。
測(cè)量條件
可以用一個(gè)簡(jiǎn)單的操作調(diào)用。
Large limit 此為樣本粒徑的容許上限值。超過(guò)此設(shè)定值的,則為無(wú)效數(shù)據(jù)。
Small limit 此為樣本粒徑的容許下限值。未達(dá)此設(shè)定值的,則為無(wú)效數(shù)據(jù)。
Stroke 從比樣本粒徑容許上限值+0.33mm的位置開(kāi)始?jí)簤膭?dòng)作。
Crush diameter 圧此為壓壞點(diǎn)的判定基準(zhǔn)。
0:沒(méi)被壓壞的數(shù)據(jù)判定為無(wú)效數(shù)據(jù)。
基本設(shè)定推薦“0"